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雙顯絕緣電阻測(cè)試儀的故障原因及防范措施

2019-05-19

RLT2011雙顯絕緣電阻測(cè)試儀由于具有測(cè)量、取值方便、功能齊全等優(yōu)點(diǎn),因此深受無(wú)線電愛(ài)好者的歡迎、普通的雙顯絕緣電阻測(cè)試儀一般具有電阻測(cè)量、通斷聲響檢測(cè)、二極管正向?qū)妷簻y(cè)量。交流直流電壓電流測(cè)量、三極管放大倍數(shù)及性能測(cè)量等。有些雙顯絕緣電阻測(cè)試儀則增加了電容容量測(cè)量、頻率測(cè)量、溫度測(cè)量、數(shù)據(jù)記憶及語(yǔ)音報(bào)數(shù)等功能,給實(shí)際檢測(cè)工作帶來(lái)很大的方便。

但是,RLT2011雙顯絕緣電阻測(cè)試儀由于使用不當(dāng),在實(shí)際檢測(cè)時(shí)易造成表內(nèi)元件損壞,產(chǎn)生故障。數(shù)字方用表在使用中的注意事項(xiàng),供初學(xué)初用者參考,以盡量防止雙顯絕緣電阻測(cè)試儀的損壞。

雙顯絕緣電阻測(cè)試儀故障原因及防范措施:

1、雙顯絕緣電阻測(cè)試儀損壞在大多數(shù)情況下是因測(cè)量檔位錯(cuò)誤造成,如在測(cè)量交流市電時(shí),測(cè)量檔位選擇置于電阻擋,這種情況下表筆一旦接觸市電,瞬間即可造成萬(wàn)用表內(nèi)部元件損壞。因此,在使用萬(wàn)用表測(cè)量前一定要先檢查測(cè)量檔位是否正確。在使用完畢,將測(cè)量選擇置于交流750V或者直流1000V處,這樣在下次測(cè)量時(shí)無(wú)論誤測(cè)什么參數(shù),都不會(huì)引起雙顯絕緣電阻測(cè)試儀損壞.

2、有些雙顯絕緣電阻測(cè)試儀損壞是由于測(cè)量的電壓電流超過(guò)量程范圍所造成的.如在交流20V檔位測(cè)量市電,很易引起雙顯絕緣電阻測(cè)試儀交流放大電路損壞,使萬(wàn)用表失去交流測(cè)量功能。在測(cè)量直流電壓時(shí),所測(cè)電壓超出測(cè)量量程,同樣易造成表內(nèi)電路故障。

在測(cè)量電流時(shí)如果實(shí)際電流值超過(guò)量程,一般僅引起萬(wàn)用表內(nèi)的保險(xiǎn)絲燒斷,不會(huì)造成其它損壞。所以在測(cè)量電壓參數(shù)時(shí),如果不知道所測(cè)電壓的大致范圍,應(yīng)先把測(cè)量檔置于,通過(guò)測(cè)量其值后再換檔測(cè)量,以得到比較的數(shù)值。如果所要測(cè)量的電壓數(shù)值遠(yuǎn)超出萬(wàn)用表所能測(cè)量的大量程,應(yīng)另配高阻測(cè)量表筆。如檢測(cè)黑白彩電的第二陽(yáng)*壓及聚焦高壓。

3、多數(shù)雙顯絕緣電阻測(cè)試儀的直流電壓上*程為1000V,因此測(cè)量直流電壓時(shí),高電壓值在1000V以下,一般不會(huì)損壞萬(wàn)用表。如果超出1000V,則很有可能造成萬(wàn)用表?yè)p壞。但是,不同的雙顯絕緣電阻測(cè)試儀的可測(cè)量電壓上限值可能有所不同。如果測(cè)量的電壓超出量程,可采取電阻降壓的方法加以測(cè)量。另外,在測(cè)量40O~1000V的直流高電壓時(shí),表筆與測(cè)量處一定要接觸好,不能有任何抖動(dòng),否則,除了可能會(huì)造成萬(wàn)用表?yè)p壞而使測(cè)量不準(zhǔn)確外,嚴(yán)重時(shí)還可使萬(wàn)用表無(wú)任何顯示。

4、在測(cè)量電阻時(shí),應(yīng)注意一定不要帶電測(cè)量。

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